對多類失效電子元器件的點性能進行測試，分析以及問題定位
通過對集成電路管腳件的VI特性電性能進行測試、比對和分析，找出失效樣品的問題管腳。
快速對失效樣品和良品管腳特性進行對比，定位問題引腳數(shù)量和位置
對問題請教進行IV特性測試，確定失效樣品問題引腳間阻抗、容抗、漏電流等消息。
必要時對失效樣品的非問題引腳進行置位操作，分析結(jié)果的準(zhǔn)確性。
提供英國ABI電路板檢測設(shè)備:電路板故障診斷系統(tǒng),電路板故障檢測儀,電路板在線維修測試儀,集成電路在線測試儀,故障電路板檢測儀,非加電測試方案,電路板功能測試方案,電路板仿真測試方案,電路板測試系統(tǒng)定制開發(fā),提供:電路板維修測試儀,電路在線維修測試儀,故障電路板檢測儀,電路板故障診斷系統(tǒng)技術(shù)培訓(xùn),測試程序定制開發(fā)服務(wù)-英國ABI中國區(qū)技術(shù)服務(wù)中心
——英國ABI中國區(qū)技術(shù)服務(wù)中心：非加電測試方案,電路板功能測試方案,電路板仿真測試方案,電路板測試系統(tǒng)定制開發(fā),電路板故障診斷系統(tǒng)技術(shù)培訓(xùn),測試程序定制開發(fā)服務(wù)。
電 話：010-82573333
郵 箱：h4040@163.com
地 址：北京市海淀區(qū)蘇州街18號長遠天地大廈A2座711室
郵 編：100080
Copyright ?英國ABI中國技術(shù)服務(wù)中心-提供電路板測試方案-電路板故障測試方案,Inc.All rights reserved. 京ICP備05068049號 
京公網(wǎng)安備：11010802020646號
