對(duì)各類(lèi)失效電子元器件的點(diǎn)性能進(jìn)行測(cè)試，分析以及問(wèn)題定位

通過(guò)對(duì)集成電路管腳件的VI特性電性能進(jìn)行測(cè)試、比對(duì)和分析，找出失效樣品的問(wèn)題管腳。

快速對(duì)失效樣品和良品管腳特性進(jìn)行對(duì)比，定位問(wèn)題引腳數(shù)量和位置

對(duì)問(wèn)題請(qǐng)教進(jìn)行IV特性測(cè)試，確定失效樣品問(wèn)題引腳間阻抗、容抗、漏電流等消息。

必要時(shí)對(duì)失效樣品的非問(wèn)題引腳進(jìn)行置位操作，確保分析結(jié)果的準(zhǔn)確性。