北京金三航科技發(fā)展有限公司主要銷售集成電路測(cè)試儀,電路板故障檢測(cè)儀,電路板反求系統(tǒng),邊界掃描測(cè)試儀,電路板維修工作站,提供英國(guó)ABI-2400/2500電路板故障檢測(cè)儀產(chǎn)品資料下載.
——強(qiáng)大的測(cè)試功能特點(diǎn):
1)適合各種類型的測(cè)試,模擬及數(shù)字集成電路及各種分立器件的測(cè)試
2)可進(jìn)行在線或離線測(cè)試與分析
3)具有24路測(cè)試通道,也可使用探棒進(jìn)行巡檢測(cè)試,針對(duì)各種類型的封裝元件進(jìn)行測(cè)試。
4)安全性高的無電源測(cè)量方式,不用給電路板加電,系統(tǒng)自動(dòng)施加各種類型的測(cè)試條件,最大可能地保證測(cè)試安全。
5)多種測(cè)試類型:1)簡(jiǎn)單類型V-I曲線測(cè)試,針對(duì)固定某一管腳的不同管腳的測(cè)試,2)矩陣式V-I曲線測(cè)試模式, 可針對(duì)管腳間的阻抗曲線進(jìn)行測(cè)試。提供了豐富的測(cè)試信息,保證的測(cè)試的可靠性。
6)在進(jìn)行離線測(cè)試時(shí), 可針對(duì)蕊片內(nèi)部進(jìn)行阻抗分析
7)自動(dòng)對(duì)比及儲(chǔ)存V-I曲線,以備日后調(diào)取,方便了元件庫(kù)的建立
8)可切換VI,VT及IT三種顯示模式, 可配合不同功能型式的FET元器件
9)可設(shè)定同步脈沖信號(hào)的寬度, 進(jìn)行可控規(guī)元器件或FET的功能測(cè)試
10)可進(jìn)行光耦合及繼電器元器件的速度功能測(cè)試
11)具有二組信號(hào)源, 可輸出直流信號(hào), 針對(duì)光耦合器及繼電器進(jìn)行穩(wěn)態(tài)測(cè)試.
12)顯示相似度百分比,具有業(yè)界中最多的信號(hào)頻率調(diào)整檔位, 對(duì)于故障的查找有相當(dāng)?shù)膸椭?
13)測(cè)試頻率高達(dá)到12kHz, 非常合適測(cè)試電感及高頻電容器件
14)系統(tǒng)具備自動(dòng)信號(hào)補(bǔ)償功能, 可針對(duì)測(cè)試環(huán)境及夾具進(jìn)行自校測(cè)試, 以防止量測(cè)信號(hào)失真.
15)可進(jìn)行維修日志的編寫,將維修記錄長(zhǎng)期保存,以備日后查看。
16)可由軟件加入圖片, 用來清楚的表示被測(cè)元件的位置及電路板樣式.
17)可選擇利用USB或PCI通訊接口來進(jìn)行儀器的操作, 也可安裝在PC內(nèi)來節(jié)省所占的空間.
附件:
2019-12
最大測(cè)試管腳數(shù):256英國(guó)ABI-AT256全品種集成電路測(cè)試儀測(cè)試適用范圍:元器件測(cè)試-適用于所有類型的集成電路的測(cè)試和元器件的篩選測(cè)試電路板測(cè)試-適用各種電路板的檢測(cè)(附加測(cè)試電纜線和各種封裝的測(cè)試夾)測(cè)試原理(v-i曲線測(cè)試):對(duì)元器件的每個(gè)管腳施加一個(gè)安全的低功率的掃描驅(qū)… [了解更多]
2019-04
功能強(qiáng)大的2500含模擬器件測(cè)試庫(kù),可以直接對(duì)模擬器件進(jìn)行參數(shù)測(cè)試. 測(cè)量通道數(shù):24個(gè)獨(dú)立測(cè)試通道; 驅(qū)動(dòng)輸出電壓:-12V~+12V ;驅(qū)動(dòng)輸出電流:200mA; 可測(cè)量輸入電壓:±24V; 輸入阻抗:大于1MΩ; IC測(cè)試封裝型態(tài):OP放大器/比較器/DACs/ADCs… [了解更多]
2019-03
邏輯電平輸出通道規(guī)格:(Low voltage output for digital circuits)電壓輸出范圍:2.5V ~ 6V可編程;最小調(diào)整分辨率:0.01V 過電壓范圍:3V ~ 7V 可編程電平閾值;最小調(diào)整分辨率:0.1V;輸出電流值:5A;短路電流:7A;短…… [了解更多]
2019-03
英國(guó)ABI-6300多功能儀表工作站垂直軸規(guī)格:帶寬:> 25 MHz;采樣率:50MS/s (5GS/s ERS 模式);通道數(shù):2通道+外部觸發(fā)通道;耦合模式:AC, DC, GND;輸入阻抗:1M Ω, 25pF;電壓靈敏度:20mV to 2V /div;… [了解更多]
2019-03
主要功能:64通道數(shù)字集成電路在線、離線功能測(cè)試;64通道V-I曲線模擬通道測(cè)試(可測(cè)模擬器件);強(qiáng)大的元器件和整板仿真測(cè)試功能;閾值電平零界點(diǎn)掃描測(cè)試;短路追蹤測(cè)試(低電阻測(cè)試);實(shí)時(shí)顯示輸出邏輯電平值;存儲(chǔ)器功能測(cè)試;數(shù)字時(shí)序編輯功能;未知器件型號(hào)查詢;程控電源供電;… [了解更多]
英國(guó)ABI:電路板故障檢測(cè)儀,通用電路板故障診斷系統(tǒng),電路板維修測(cè)試儀;英國(guó)ABI-BM8600電路板故障檢測(cè)儀;英國(guó)ABI-BM8500電路板故障檢測(cè)儀;英國(guó)ABI-BM8400電路板故障檢測(cè)儀;英國(guó)ABI-BM8300電路板故障檢測(cè)儀;英國(guó)ABI-3400三維立體V-I-F動(dòng)態(tài)阻抗分析儀;英國(guó)ABI-DT5000C多功能電路板故障檢測(cè)儀;歡迎來電咨詢,咨詢電話:010-82573333.
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