英國ABI-BM8600多功能電路板故障診斷工作站整體概述：

   測試方法快速化—器件級快速定位電路板故障

   測試手段化—多種手段檢測電路板故障:功能測試、仿真測試、端口測試

   測試過程流程化—測試過程：工藝化、標(biāo)準(zhǔn)化、流程化。排除人為因素干擾。 

   測試結(jié)果數(shù)據(jù)化—測試結(jié)果信息化、數(shù)據(jù)化。

   硬件系統(tǒng)測試功能模塊化設(shè)計，可根據(jù)需求擴充測試功能和測試通道。測試功能：多電源數(shù)字電路測試功能、模擬電路測試功能、三維立體動態(tài)阻抗測試功能、多功能儀表測試功能、流程控制可調(diào)式電源。

   軟件系統(tǒng)測試過程流程化設(shè)計，可以通過非編程方式實現(xiàn)測試過程流程化：保存流程測試的步驟和數(shù)據(jù)，形成標(biāo)準(zhǔn)的測試流程,提高排查故障和測試效率。

   系統(tǒng)包含檢測原理：功能測試、仿真測試、動態(tài)阻抗測試。系統(tǒng)可以完成如下功能：電路板整板仿真測試與功能測試、電路板整板V-I-F動態(tài)阻抗端口測試分析、電路板故障快速定位、元器件功能庫測試、圖形化元件測試庫和整板測試庫編輯與測試、整板一致性分析測試與檢測、整板元器件老化趨勢分析、電路板可靠性保障分析與測試。

   系統(tǒng)可以實現(xiàn)測試結(jié)果數(shù)據(jù)化，自定義測試報告。

軟件流程化設(shè)計 

生成自定義測試報告

巴西圣保羅地鐵所使用的專屬界面——界面自定義設(shè)計與布局

英國ABI-BM8600多功能電路板故障診斷工作站主要功能特點：

1．硬件系統(tǒng)測試功能化設(shè)計，可根據(jù)要求擴充測試功能和測試通道。

2．軟件系統(tǒng)測試過程流程化設(shè)計，可以通過非編程方式實現(xiàn)測試過程流程化：保存流程測試的步驟和數(shù)據(jù)，形成標(biāo)準(zhǔn)的測試流程，提高排故和測試效率。

3. 軟件界面自定義化設(shè)計與布局：用戶可設(shè)計自己儀器界面、軟件布局。

4. 測試數(shù)據(jù)記錄并生成自定義檢測報告。測試報告包含用戶關(guān)注的測試數(shù)據(jù)與測試結(jié)果。

5. 多電源數(shù)字電路測試功能具有64通道數(shù)字集成電路在線、離線功能測試（可擴充到2048通道），每個通道可以根據(jù)需要分別獨立定義為：輸入/電壓測量、輸出/信號驅(qū)動或V/I曲線測量；可進(jìn)行自定義測試，器件與整板的仿真測試。

6. 閾值電平臨界點掃描測試功能，確定標(biāo)準(zhǔn)板電平臨界值，可以檢查故障板器件的穩(wěn)定性。

7. 邏輯時序測試功能：輸入、輸出圖形顯示，各個通道具體邏輯時序電平值數(shù)字化顯示等。

8. 具備邏輯電平閾值自定義功能?？梢栽O(shè)定非標(biāo)準(zhǔn)邏輯電平閾值，檢查不穩(wěn)定元器件；

9. 系統(tǒng)可對多種器件進(jìn)行端口測試： V-I、V-T、V-I-F、I-T測試.V-I測試頻率低達(dá)1Hz，V-I-F測試頻率高達(dá)10kHz；

10. 128路變頻三維立體V-I-F測量通道，三維立體顯示器件的端口特性曲線，可以查找與器件頻率有關(guān)的故障，適合數(shù)字及模擬集成電路與電路板的測試。

11. 系統(tǒng)各個功能可在同一個專業(yè)平臺操控下同時運行，完成流程化、步驟化、標(biāo)準(zhǔn)化測試并生成自定義測試報告。

12. 集成8種測試儀器于一體：數(shù)字示波器、任意波形發(fā)生器、數(shù)字電壓表、數(shù)字電流表、數(shù)字電阻表、頻率計、通用I/O、輔助電源。8種常規(guī)測試儀器可以并發(fā)操作，測試數(shù)據(jù)可形成測試報告，對電路板進(jìn)行仿真測試、調(diào)試測試、一致性測試等整板測試。

13. 同步脈沖輸出模式：單脈沖、雙脈沖、三脈沖、四脈沖；同步脈沖時間寬度連續(xù)可調(diào)；

14. 可調(diào)式電源具有3路可調(diào)電源，電源輸出由系統(tǒng)軟件來控制，測試時自動開啟和關(guān)閉電源。

15. 多達(dá)上萬種的數(shù)字器件測試庫，測試器件庫涵蓋常用的器件，可以通過圖形化器件編輯器定義輸入激勵信號及測試輸出的標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)信號，快速批量建立元器件和整板測試庫。

16. 系統(tǒng)含有模擬器件測試庫，可對放大器、比較器、二極管、三極管、晶閘管、場效應(yīng)晶體管、光耦器件、AD和DA數(shù)模轉(zhuǎn)換器件等模擬集成電路進(jìn)行功能測試。 

17. 智能腳踏開關(guān)使雙手專注于電路板測試，節(jié)省測試時間，增加軟件和儀器之間的交互，提高測試效率，方便用戶保存測試結(jié)果和設(shè)置。

英國ABI-BM8600多功能電路板故障診斷工作站測試夾具（選項）：

1）DIL測試夾具（6支裝） 

2）SOIC測試夾具（6支裝） 

3）伸縮探針 

4）微型測試鉤 

5）ABI訓(xùn)練板 

6）腳踏開關(guān) 

7）分立器件測試探針（4支裝） 

8）模擬V-I離線測試盒 

9）PLCC測試夾具

提供英國ABI-BM8600多功能電路板故障診斷工作站技術(shù)參數(shù)指標(biāo),電路板故障診斷系統(tǒng),電路板故障檢測儀,電路板在線維修測試儀,集成電路在線測試儀,多功能電路板故障診斷工作站使用技術(shù)培訓(xùn)服務(wù),測試程序開發(fā)定制服務(wù).英國ABI中國區(qū)技術(shù)服務(wù)中心: 010-82573333.

10）QFP測試夾具

11）SOIC 探針夾具

12）BGA測試夾具