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        • 某工廠芯片測(cè)試案例SPHE8202L-F5-OK2故障器件測(cè)試報(bào)告

          北京金三航科技發(fā)展有限公司主要銷(xiāo)售集成電路測(cè)試儀,電路板故障檢測(cè)儀,電路板反求系統(tǒng),邊界掃描測(cè)試儀,電路板維修工作站,提供某工廠芯片測(cè)試案例SPHE8202L-F5-OK2故障器件測(cè)試報(bào)告.

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          測(cè)試時(shí)間:2012-03-29 測(cè)試結(jié)果:失敗

          測(cè)試元件型號(hào):SPHE8202L-F5-OK2

          測(cè)試設(shè)備:英國(guó)ABI-AT192


          Test Summary



          Device:SPHE8202
          Package:QFP128
          Scan Profile:Low V Digital
          Overall Result:FAIL
          Operator:Administrator
          Report Date:29 March 2012



          某工廠芯片測(cè)試案例SPHE8202L-F5-OK2故障器件測(cè)試報(bào)告


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