循環(huán)測試-判定間歇性故障元器件更準確

采用無條件或有條件循環(huán)測試模式,能夠找到間歇性故障點和由溫度引起的故障,并顯示單個管腳的診斷信息. 

簡介: 

可測元器件包含TTL系列,CMOS,存儲器,大規(guī)模集成電路,接口芯片以及其它多達40管腳的器件,不斷擴充的多達上千種元器件庫,元器件庫可以自行編程擴充升級.

特點：

·操作簡單方便

·內(nèi)置元器件庫可擴充升級

·未知IC型號查找

·顯示單個管腳故障診斷信息

·元件代換查詢

·可選SOIC和PLCC適配座

·可選編程軟件與PC實時通訊測試

·電池與直流供電

·可以選擇不同封裝的測試座

功能:

Single-對測試座上的IC進行單次測試.

Loop-無論結(jié)果如何,重復(fù)進行測試 

P Loop-若測試結(jié)果為PASS,重復(fù)進行測試

F Loop-若測試結(jié)果為FAIL,重復(fù)進行測試 

Search-識別測試座上IC的型號 

Diags-進行自我診斷測試 

CmLink-進入CompactLink 軟件通訊模式

Sw Off-將本儀器關(guān)機 

專業(yè)的CompactLink編程通訊軟件(選配件)

可以擴充元件庫的編程軟件;

與PC實時通訊測試軟件;

允許用戶根據(jù)軟件增加新元器件庫,并產(chǎn)生新的功能測試,可以滿足特殊的應(yīng)用;

軟件采用PremierLink IC編程(PLIP);

高水平的測試編程描述語言;

模擬和數(shù)字測試程序;

可通過RS-232或者USB接口連接電腦;

本軟件適合于ChipMaster和LinearMaster;