英國ABI-BM8300多功能集成電路及電路板故障診斷產(chǎn)品簡介：

    系統(tǒng)配有用Premier 操作軟件,系統(tǒng)中的所用測試項(xiàng)目可以同時(shí)操作使用,并按照需求制定測試工作流程,記錄下測試者每一步的測試數(shù)據(jù),形成寶貴的標(biāo)準(zhǔn)測試程序

    標(biāo)準(zhǔn)測試程序功能 (TestFlow) 可以將電路板的故障定位工作,轉(zhuǎn)換成一個(gè)循序漸進(jìn)的標(biāo)準(zhǔn)程序,并降低測量的不準(zhǔn)確性并且記錄測量參數(shù). 技術(shù)工程人員可以自行編寫一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的測試程序,或經(jīng)由TestFlow為特定的電路板設(shè)定標(biāo)準(zhǔn)的量測步驟及記錄測量的結(jié)果. 工程人員也可以加入電路圖或?qū)嶋H的電路板圖片,甚至是加入一些指示來幫助檢測工作的進(jìn)行. 半熟練的工程人員只需要按步就班的依指示及圖示來操作設(shè)備,便可以完成檢測工作.

英國ABI-BM8300多功能集成電路及電路板故障診斷產(chǎn)品綜述：

數(shù)字集成電路測試的高級(jí)測試模塊(ATM)

提供了1個(gè)數(shù)字集成電路功能測試模塊,其具有64個(gè)量測通道,可提供多種的量測功能.這些通道可提供故障診斷能力,包括數(shù)字集成電路功能測試(在線/離線測試),集成電路接腳的連接狀態(tài)和電壓值的量測,并連同在無電源供給的情形下使用的VI曲線的測試功能.

該模塊是升級(jí)產(chǎn)品,是數(shù)字集成電路測試的高級(jí)測試模塊,系統(tǒng)提供信息更豐富,更準(zhǔn)確.測試條件更豐富,仿真測試輸入條件電壓電流可以根據(jù)需要-10V~+10V之間自己定義,檢測輸出的電平也可以自己定義.6500模塊可以更好的檢測測試庫以外的元器件,實(shí)現(xiàn)電路板仿真測試更加方便快捷.

模擬集成電路測試功能模塊(AICT)

在模擬集成電路測試儀中允許模擬集成電路和分立集成電路進(jìn)行功能測試.常見的模擬集成電路可以測試,系統(tǒng)會(huì)依照集成電路在PCB上的電路型態(tài)來作功能測試,不需要編輯程序或參考電路圖.在該模塊中還包括了V-I曲線測試功能,電路板或集成電路可在無電源供給的情形下,得到清楚易懂的圖形化測試結(jié)果.2500模塊包含標(biāo)準(zhǔn)模擬器件參數(shù)測試庫。

數(shù)字可調(diào)式電源供應(yīng)器模塊(VPS)

此模塊可提供集成電路或電路板在進(jìn)行測試時(shí)電源.其具有三組可調(diào)式電源輸出,并同時(shí)具有過電壓及過載保護(hù)功能.

Digital IC Test 數(shù)字集成電路測試功能

具64個(gè)量測通道 (64通道X1組模塊).八組輸出隔離信號(hào).可進(jìn)行集成電路的功能測試、電壓測量、接腳連接測試、溫度指數(shù)及V-I曲線量測.內(nèi)建邏輯時(shí)序信號(hào)測量功能、EPROM 數(shù)據(jù)比對(duì)功能、數(shù)字集成電路搜尋功能等.并可針對(duì)數(shù)字邏輯位準(zhǔn)進(jìn)行調(diào)整,另外可自動(dòng)定位集成電路接腳及電路狀態(tài)比對(duì)功能.

Analogue IC Test 模擬集成電路測試功能

具有24組測試通道及外加一組的分離集成電路測試信道.內(nèi)建集成電路數(shù)據(jù)庫可測量模擬放大器、比較器、光耦合器、晶體管、二極管及特殊功能的集成電路.可針對(duì)模擬集成電路進(jìn)行功能測、連接狀態(tài)測試及電壓測量.并具有自動(dòng)定位集成電路接腳及電路狀比對(duì)功能.

Digital V-I Test 數(shù)字式V-I曲線測試功能

具64量測通道(64通道X1個(gè)模塊).可調(diào)整測量信號(hào)電壓范圍.針對(duì)數(shù)字集成電路可達(dá)到有效的測量結(jié)果.

Analogue V-I Test 模擬式V-I曲線測試功能

具有24量測通道及外加二組獨(dú)立測量通道.其具有可調(diào)頻率、可調(diào)電壓、可調(diào)輸出阻抗及選擇測量波形功能.并可選擇波形顯示模式:V-I、V-T及I-T三種顯示模式.二組同步可變脈寬的信號(hào)輸出.內(nèi)建測量線路補(bǔ)償功能.具有外接盒可供選配.

Matrix V-I 矩陣式V-I測試功能

具有24組矩陣式的測量通道.單一波形多重顯示的方式，并可直接進(jìn)行測量波形的比對(duì)功能,并以條狀圖的方式來顯示各通道信號(hào)的差異百分比.

Graphical Test Generator 數(shù)字時(shí)序編輯功能

具有64個(gè)信號(hào)通道可供編輯數(shù)字時(shí)序信號(hào),每個(gè)通道可設(shè)定輸出、輸入及雙向狀態(tài).并可讀取數(shù)字向量信號(hào)、并且儲(chǔ)存之后再進(jìn)行比對(duì).

Short Locator 短路電阻測量功能

具有三段低電阻測量范圍,可以圖示及聲音來判斷目前短路的位置.

Variable Power Supply 可調(diào)型電源輸出功能

邏輯電源輸出的可調(diào)電壓范圍為2.5V到6V并具有過電壓跳脫功能.另外有可調(diào)式的正負(fù)電源輸出,其可電壓可調(diào)范圍為-24V到+24V.其輸出電流能力可達(dá)1A.

模塊介紹

ATM數(shù)字集成電路測試模塊

英國ABI-BM8300多功能集成電路及電路板故障診斷主要功能:

64通道數(shù)字集成電路在線、離線功能測試

64通道V-I曲線模擬通道測試(可測模擬器件)

強(qiáng)大的元器件和整板仿真測試功能

閾值電平零界點(diǎn)掃描測試

短路追蹤測試(低電阻測試)

實(shí)時(shí)顯示輸出邏輯電平值

存儲(chǔ)器功能測試

數(shù)字時(shí)序編輯功能

未知器件型號(hào)查詢

程控電源供電

測試準(zhǔn)確-源自先進(jìn)的測試技術(shù)

同一器件同一時(shí)間完成多種測試:功能測試,V-I曲線測試,溫度拐點(diǎn)系數(shù)測試,連接狀態(tài)測試,管腳電壓測試等.

圖形化元件測試庫的編輯,輸入輸出各個(gè)測試通道的邏輯時(shí)序可以由測試者圖形化自定義編輯測試完成,方便快捷的建立起測試庫中沒有的元件庫.

整板測試非常簡單,通過圖形化的測試庫編輯器,根據(jù)電路板原理,定義輸入激勵(lì)信號(hào)及測試輸出的標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)信號(hào),快速建立板測試庫,快速批量檢測電路板的功能.

邏輯電平閾值自動(dòng)掃描,確定板系統(tǒng)邏輯電平閾值零界值,設(shè)定循環(huán)測試來發(fā)現(xiàn)不穩(wěn)定的故障元器件.

邏輯電平閾值自定義.可以設(shè)定非標(biāo)準(zhǔn)的邏輯電平閾值,檢查不穩(wěn)定的元器件.

短路電阻測量功能:三段低電阻測量范圍,可以用圖像及聲音的變化來表示電阻值大小,此功能可以用以檢查電路板線路的電阻值,及檢查短路點(diǎn).

輸出邏輯時(shí)序圖形顯示,具體時(shí)序電壓值顯示,方便掌握具體測試信息.

V-I曲線測試功能:可針對(duì)元器件直接進(jìn)行測試,曲線電壓掃描范圍:-10v~+10v;測試電壓可由2.5到5V步階式調(diào)整,可調(diào)整為非對(duì)稱電壓掃描信號(hào),正負(fù)電壓可以不一致,例如:-2.5v~+10v 大限度地測試的安全性.其輸出電流由系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)整設(shè)定.掃描信號(hào)可達(dá)幾十種.

提供英國ABI-BM8300多功能集成電路及電路板故障診斷儀技術(shù)參數(shù)指標(biāo),電路板故障診斷系統(tǒng),電路板故障檢測儀,電路板在線維修測試儀,集成電路在線測試儀,電路板故障診斷儀使用技術(shù)培訓(xùn)服務(wù),測試程序開發(fā)定制服務(wù). 英國ABI中國區(qū)技術(shù)服務(wù)中心: 010-82573333.