功能強(qiáng)大的英國(guó)ABI-2500電路板故障檢測(cè)儀

含模擬器件測(cè)試庫(kù),可以直接對(duì)模擬器件進(jìn)行參數(shù)測(cè)試.
 測(cè)量通道數(shù):24個(gè)獨(dú)立測(cè)試通道
 驅(qū)動(dòng)輸出電壓:-12V~+12V
 驅(qū)動(dòng)輸出電流:200mA
 可測(cè)量輸入電壓:±24V
 輸入阻抗:大于1MΩ
 IC測(cè)試封裝型態(tài):OP放大器/比較器/DACs/ADCs
 IC測(cè)試方式:在線測(cè)試,若工作在OPA工作在線性區(qū), 則可自動(dòng)計(jì)算出放大率(Av)
 晶體管測(cè)試種類:晶體管/FET/TRIACS/THYRISTOR等
 分立元器件測(cè)量通道可輕易的讓使用者完成分立元器件的測(cè)量工作,其內(nèi)部提供了許多測(cè)量方式,可讓使用者用于許多類型的分立元器件測(cè)試,包含功率型或高增益的分立元器件等.

英國(guó)ABI-2500電路板故障檢測(cè)儀特點(diǎn):

適合模擬及數(shù)字集成電路的測(cè)試.
 可進(jìn)行在線或離線測(cè)試與分析.
 具有24路測(cè)試通道.
 安全性高的無(wú)電源測(cè)量方式.
 矩陣式V-I曲線測(cè)試,可針對(duì)管腳間的阻抗曲線進(jìn)行測(cè)試.
 在進(jìn)行離線測(cè)試時(shí),可針對(duì)芯片內(nèi)部進(jìn)行阻抗分析.
 自動(dòng)對(duì)比及儲(chǔ)存曲線.
 可切換VI,VT及IT三種顯示模式,可配合不同功能型式的FET元器件.
 可設(shè)定同步脈沖信號(hào)的寬度,進(jìn)行可控硅元器件或FET的功能測(cè)試.
 可進(jìn)行光電耦合器及繼電器元器件的速度功能測(cè)試.
 具有二組信號(hào)源,可輸出直流信號(hào),針對(duì)光電耦合器及繼電器進(jìn)行穩(wěn)態(tài)測(cè)試.
 并且顯示相似度百分比,具有業(yè)界中最多的信號(hào)頻率文件位,對(duì)于故障的查找有相當(dāng)大的幫助.
 測(cè)試頻率高達(dá)到12kHz,非常適合測(cè)試電感及高頻電容器件.
 本系統(tǒng)具備自動(dòng)信號(hào)補(bǔ)償功能,可針對(duì)測(cè)試環(huán)境及夾具進(jìn)行自校測(cè)試,以防止量測(cè)信號(hào)失真.
 可由軟件來(lái)進(jìn)行維修日志的編寫(xiě).
 可由軟件加入圖片,用來(lái)清楚的表示量測(cè)位置及電路板樣式.
 可選擇利用USB或PCI通訊接口來(lái)進(jìn)行儀器的操作,也可安裝在PC內(nèi)來(lái)節(jié)省所占的空間

測(cè)試參數(shù)：