二維V-I動態(tài)阻抗端口測試通道:1024路; 二維V-I動態(tài)阻抗端口矩陣測試通道:1024路; 三維V-I-F動態(tài)阻抗端口測試通道:1024路;
二維V-I動態(tài)阻抗端口測試通道:512路; 二維V-I動態(tài)阻抗端口矩陣測試通道:512路; 三維V-I-F動態(tài)阻抗端口測試通道:512路；
最大測試管腳數(shù):256測試適用范圍：元器件測試-適用于所有類型的集成電路的測試和元器件的篩選測試電路板測試-適用各種電路板的檢測（附加測試電纜線和各種封裝的測試夾）測試原理（v-i曲線測試）：對元器件的每個管腳施加一個安全的低功率的掃描驅(qū)動
二維V-I動態(tài)阻抗端口測試通道:256+64路; 三維V-I-F動態(tài)阻抗端口測試通道:64路;
二維V-I動態(tài)阻抗端口測試通道:2048路; 二維V-I動態(tài)阻抗端口矩陣測試通道:2048路; 三維V-I-F動態(tài)阻抗端口測試通道:2048路;
內(nèi)置元件庫可以擴充升級;準確可靠的仿真測試;全面性測試更加準確;顯示故障管腳的診斷信息;查找未知型號元件;元件代換查詢;與PC連接可以進行通訊與測試;
循環(huán)測試-判定間歇性故障元器件更準確;采用無條件或有條件循環(huán)測試模式,能夠找到間歇性故障點和由溫度引起的故障,并顯示單個管腳的診斷信息.
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