數(shù)字及模擬集成電路的功能測(cè)試;動(dòng)態(tài)及靜態(tài)測(cè)試;適合單點(diǎn)量測(cè);自動(dòng)化測(cè)試程序;可由使用者設(shè)計(jì)的操作軟件;
產(chǎn)品特點(diǎn):集成電路及電路板的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試功能;數(shù)字及模擬集成電路的功能測(cè)試 ;動(dòng)態(tài)及靜態(tài)測(cè)試;適合單點(diǎn)量測(cè);自動(dòng)化測(cè)試程序;可由使用者設(shè)計(jì)的操作軟件;
在BM-8400中提供了1個(gè)數(shù)字集成電路功能測(cè)試模塊,其具有64個(gè)量測(cè)通道,可提供多種的量測(cè)功能.
系統(tǒng)配有專用Premier 操作軟件,系統(tǒng)中的所用測(cè)試項(xiàng)目可以同時(shí)操作使用,并按照需求制定測(cè)試工作流程,記錄下測(cè)試者每一步的測(cè)試數(shù)據(jù),形成寶貴的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試程序
主要功能:64通道數(shù)字集成電路在線、離線功能測(cè)試；64通道V-I曲線模擬通道測(cè)試(可測(cè)模擬器件)；強(qiáng)大的元器件和整板仿真測(cè)試功能；閾值電平零界點(diǎn)掃描測(cè)試；短路追蹤測(cè)試(低電阻測(cè)試)；實(shí)時(shí)顯示輸出邏輯電平值；存儲(chǔ)器功能測(cè)試；數(shù)字時(shí)序編輯功能；
功能強(qiáng)大的2500含模擬器件測(cè)試庫,可以直接對(duì)模擬器件進(jìn)行參數(shù)測(cè)試. 測(cè)量通道數(shù):24個(gè)獨(dú)立測(cè)試通道; 驅(qū)動(dòng)輸出電壓:-12V~+12V ;驅(qū)動(dòng)輸出電流:200mA; 可測(cè)量輸入電壓:±24V; 輸入阻抗:大于1MΩ; IC測(cè)試封裝型態(tài)
1)產(chǎn)品體積小，重量輕，USB接口，適合攜帶;2)64路數(shù)字集成電路測(cè)試，64路V-I曲線測(cè)試，1路v-i探棒測(cè)試;3)同一器件可以在同一時(shí)間完成多種測(cè)試：功能測(cè)試，V-I曲線測(cè)試，溫度拐點(diǎn)系數(shù)測(cè)試，連接狀態(tài)測(cè)試，管管腳電壓測(cè)試;
英國ABI-6300多功能儀表工作站垂直軸規(guī)格:帶寬:> 25 MHz;采樣率:50MS/s (5GS/s ERS 模式);通道數(shù):2通道+外部觸發(fā)通道;耦合模式:AC, DC, GND;輸入阻抗:1M Ω, 25pF;電壓靈敏度:2…
適合各種類型的測(cè)試,模擬及數(shù)字集成電路及各種分立器件的測(cè)試;可進(jìn)行在線或離線測(cè)試與分析;
三維立體V-I-F曲線測(cè)試儀;變頻掃描V-I-F曲線測(cè)試儀;專業(yè)級(jí)V-I-F曲線測(cè)試儀;靜態(tài)診斷電路板, 不必外加電源即可進(jìn)行測(cè)試;檢測(cè)電路板上受損器件;可檢測(cè)出具有泄漏型故障的器件.
邏輯電平輸出通道規(guī)格:(Low voltage output for digital circuits)電壓輸出范圍:2.5V ～ 6V可編程;最小調(diào)整分辨率:0.01V 過電壓范圍:3V ～ 7V 可編程電平閾值;最小調(diào)整分辨率:0.1…
主要測(cè)試功能：V-I曲線測(cè)試功能;數(shù)字示波器功能;Active主動(dòng)測(cè)試功能;FirmFlex信號(hào)強(qiáng)度測(cè)試功能;
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