英國ABI-3200三維立體V-I-F動態(tài)阻抗分析儀特點:

三維立體V-I-F曲線測試儀

變頻掃描V-I-F曲線測試儀

專業(yè)級V-I-F曲線測試儀

靜態(tài)診斷電路板, 不必外加電源即可進行測試。

檢測電路板上受損器件。

可檢測出具有泄漏型故障的器件。

可檢測出不相同的器件。

將損壞風(fēng)險降至最低。

具多通道測試（64通道）, 可減少測試時間。

英國ABI-3200三維立體V-I-F動態(tài)阻抗分析儀

可在靜態(tài)條件下分析器件及整板測試采用獨特的測試方法, 測量電氣信號曲線, 偵測錯誤/瑕疵問題, 包含內(nèi)部損壞器件與不一致器件- 增加問題檢測范圍, 同時, 減少測試時間!

何謂V/I曲線測試?

對于模擬及數(shù)字電路板, V/I曲線測試是成熟、可靠的解決方案。

透過一個限流電阻器, 施加AC電壓到一個測試點時, 測量因此產(chǎn)生之電流, 并將結(jié)果繪制成一個電壓/電流圖形, 即顯示該測試點的特性曲線。

分析V/I曲線,通常是與一參考點作比較,而檢測如下問題:

漏電流器件。

內(nèi)部受損器件。

錯誤數(shù)值的器件。

不一致的器件。

短路與開路。

變頻掃描方式---增加問題查找范圍!

ABI-3400模塊, 通過改變V/I信號的AC電壓的頻率, 而增加問題檢測范圍, 其產(chǎn)生的曲線, 繪制在一個3D窗口內(nèi), 能讓使用者觀察到整個頻率范圍上的V/I曲線變化, 進而找到標(biāo)準(zhǔn)V/I分析方法看不見的問題。

矩陣式掃描V/I----- 增加問題查找范圍!

ABI-3200模塊也可使用矩陣式掃描獲得V/I曲線, 而增加問題檢測范圍。在這個模式時, ABI-3200模塊是在參考所有其它有效管腳(不同于標(biāo)準(zhǔn)V/I測試中只有一個參考管腳)的情形下, 獲得一個器件或電路板每個管腳的V/I曲線。如此,便能產(chǎn)生豐富的數(shù)據(jù)組(一個20腳器件400條曲線), 足以檢測出最不易查找的故障。

靜態(tài)測試=安全測試!

被測電路板是在靜態(tài)測試下擷取曲線, 這降低了器件在測試當(dāng)中受損的機率, 容許半熟練的操作人員執(zhí)行初步測試。更重要的是,即使是完全”閑置”的電路板, 也能作測試診斷!

多通道=更快速的測試!

ABI-3400模塊配備64個測試信道(可擴充), 可測試大規(guī)模器件、甚至整個電路板的曲線(例如, 透過一個轉(zhuǎn)接連接頭), 這可大幅減少測試所需時間，快速診斷各種電路板，而無須檢查每個管腳。

英國ABI-3200三維立體V-I-F動態(tài)阻抗分析儀測試功能

ABI-3200模塊提供多種形式的V/I曲線測試及可設(shè)定的參數(shù), 可擴大其應(yīng)用范圍及增加測試范圍, 包括:

變頻掃描進行V/I曲線測試。

設(shè)定頻率進行掃描的V/I曲線測試。

矩陣式掃描進行V/I測試。

脈沖輸出進行的動態(tài)V/I測試。