JTAGMaster邊界掃描測試儀產(chǎn)品簡介：
Joint Test Action Group(JTAG)
IEEE 1149.1 標(biāo)準(zhǔn)測試端口及邊界掃描的架構(gòu)
一般電路板常見的通訊界面
可支持一般無法使用接觸測試的組件包裝(e.g. BGA, QFN)
可同時測試多顆組件
安全且快速的電路板測試方法
它不需要功能測試程序
專業(yè)銷售英國ABI產(chǎn)品:電路板故障檢測儀,電路板維修工作站;英國ABI-BM8500電路板維修工作站,英國ABI-BM8400電路板故障檢測儀;英國ABI-3400三維立體V-I-F動態(tài)阻抗分析儀;英國ABI-2400電路板故障檢測儀;英國ABI-DT5000C多功能電路板故障檢測儀;英國ABI-1100可編程電源,英國ABI-BM8300多功能集成電路及電路板故障診斷等產(chǎn)品,提供產(chǎn)品簡介和技術(shù)參數(shù),歡迎來電咨詢,咨詢電話:010-82573333.
——
電 話：010-82573333
郵 箱：h4040@163.com
地 址：北京市海淀區(qū)蘇州街18號長遠(yuǎn)天地大廈A2座711室
郵 編：100080
Copyright ?北京金三航科技發(fā)展有限公司,Inc.All rights reserved. 京ICP備05068049號 京公海網(wǎng)安備110108001146號
