最大測(cè)試管腳數(shù):256

英國(guó)ABI-AT256全品種集成電路測(cè)試儀測(cè)試適用范圍：

元器件測(cè)試-適用于所有類型的集成電路的測(cè)試和元器件的篩選測(cè)試

電路板測(cè)試-適用各種電路板的檢測(cè)(附加測(cè)試電纜線和各種封裝的測(cè)試夾)

測(cè)試原理(v-i曲線測(cè)試)：

對(duì)元器件的每個(gè)管腳施加一個(gè)安全的低功率的掃描驅(qū)動(dòng)信號(hào)，產(chǎn)生一個(gè)阻抗特征圖，以備對(duì)比和存儲(chǔ)。

被測(cè)器件和數(shù)據(jù)庫(kù)中標(biāo)準(zhǔn)動(dòng)態(tài)阻抗圖相比對(duì)，阻抗圖的差異大小即可判斷元件的好壞和可用性。

測(cè)試信號(hào)可設(shè)定的參數(shù)包括: 電壓、波形、源電阻、頻率?？筛鶕?jù)需要進(jìn)行調(diào)整以便得到準(zhǔn)確的信息。

集成電路測(cè)試操作如此簡(jiǎn)單:

1.從數(shù)據(jù)庫(kù)選擇要測(cè)試的集成電路型號(hào).

2.將集成電路插入測(cè)試座.

3.執(zhí)行測(cè)試

4.得到PASS或FAIL的測(cè)試結(jié)果.

不需要電子專業(yè)知識(shí).

適用于所有集成電路/封裝件.及各種類型電路板

靈活、好安裝、宜操作.

測(cè)試結(jié)果直接: PASS或FAIL.

軟件可設(shè)定各種測(cè)試條件.

可提供完整的元件測(cè)試分析報(bào)告.

英國(guó)ABI-AT256全品種集成電路測(cè)試儀適合不同封裝形式的元件:

-雙列插腳(DIL)

-小型封裝集成集成電路(SOIC)

-小型封裝(SSOP, TSOP)

-塑料無(wú)引線芯片載體封裝(PLCC)

-四方扁平封裝(TQFP, PQFP, LQFP)

-球門(mén)陣列封裝(BGA)

注意: SENTRY不受限于只能測(cè)試電子集成電路, 也可用于整個(gè)模塊。

測(cè)試通道

標(biāo)準(zhǔn)提供多達(dá)128個(gè)測(cè)試通道, 可設(shè)定用于不同的元器件封裝。

升級(jí)模塊：64通道 

可擴(kuò)充到192/256個(gè)測(cè)試通道。