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        • 全品種集成電路測(cè)試儀AT256 A3



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          二維集成電路專用V-I動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道:256路

          二維電路板專用V-I動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道:192路(最大可擴(kuò)充至2048路)

          三維掃頻V-I-F動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道:192路(最大可擴(kuò)充至2048路)

          功能用途:

          1)集成電路的來料質(zhì)量控制檢測(cè)與篩選、一致性檢測(cè);

          2)快速篩選假冒、仿制集成電路及元器件;

          3)對(duì)不良器件進(jìn)行三維動(dòng)態(tài)阻抗失效分析;

          4)非加電條件下對(duì)集成電路、電路板進(jìn)行全面的端口動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試分析;

          5)快速準(zhǔn)確定位失效集成電路故障管腳,高效查找故障電路板的失效I/O管腳;

          6)測(cè)試安全可靠,全面解決器件工藝、電路板工藝問題,快速解決集成電路及電路板故障點(diǎn)定位問題;

          7)進(jìn)行集成電路和電路板阻抗一致性檢測(cè);

          8)配合專用測(cè)控平臺(tái)軟件,實(shí)現(xiàn)集成電路、電路板定制化和自定義編程測(cè)試。


          技術(shù)規(guī)格:

          1)256路二維集成電路專用V-I端口動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試通道;

          2)192路二維電路板專用V-I端口動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試通道;

          3)192路V-I-F三維立體動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試通道;

          4)4路探筆測(cè)試,4路V-T/V-T-F測(cè)試通道;

          5)顯示圖形模式:V-I, V-T, V-I-F;設(shè)備可以64通道為步進(jìn)最大擴(kuò)充到2048組測(cè)試通道;

          6)可定制各種封裝通用集成電路測(cè)試治具;

          7)可定制各種電路板I/O接口測(cè)試治具;

          8)系統(tǒng)提供測(cè)試自定義報(bào)告輸出;中英文專用測(cè)試操作軟件。


          測(cè)試原理(V-I曲線測(cè)試):

          對(duì)元器件的每個(gè)管腳施加一個(gè)安全的低功率的掃描驅(qū)動(dòng)信號(hào),產(chǎn)生一個(gè)阻抗特征圖,以備對(duì)比和存儲(chǔ)。

          被測(cè)器件和數(shù)據(jù)庫(kù)中標(biāo)準(zhǔn)動(dòng)態(tài)阻抗圖相比對(duì),阻抗圖的差異大小即可判斷元件的好壞和可用性。

          測(cè)試信號(hào)可設(shè)定的參數(shù)包括: 電壓、波形、源電阻、頻率。可根據(jù)需要進(jìn)行調(diào)整以便得到準(zhǔn)確的信息。

           

          集成電路測(cè)試操作如此簡(jiǎn)單:

          1.從數(shù)據(jù)庫(kù)選擇要測(cè)試的集成電路型號(hào).

          2.將集成電路插入測(cè)試座.

          3.執(zhí)行測(cè)試

          4.得到PASS或FAIL的測(cè)試結(jié)果.

          不需要電子專業(yè)知識(shí).

          適用于所有集成電路/封裝件.及各種類型電路板

          靈活、好安裝、宜操作.

          測(cè)試結(jié)果直接: PASS或FAIL.

          軟件可設(shè)定各種測(cè)試條件.

          可提供完整的集成電路自定義測(cè)試分析報(bào)告.


          英國(guó)ABI-AT256 A3全品種集成電路測(cè)試儀適合不同封裝形式的元件:

           -雙列插腳(DIL)

          -小型封裝集成集成電路(SOIC)

          -小型封裝(SSOP, TSOP)

          -塑料無引線芯片載體封裝(PLCC)

          -四方扁平封裝(TQFP, PQFP, LQFP)

          -球門陣列封裝(BGA)

          注意: AT256 A3不受限于只能測(cè)試電子集成電路, 也可用于整個(gè)電路板的測(cè)試。


          三維立體V-I-F動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試


          電路板故障檢測(cè)儀


          AT256 A3測(cè)試報(bào)告


          電路板故障檢測(cè)儀

          AT256 A3 集成電路測(cè)試儀

          AT256 A3集成電路測(cè)試儀

          二維集成電路專用V-I動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道:256路

          二維電路板專用V-I動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道:192路(最大可擴(kuò)充至2048路)

          三維掃頻V-I-F動(dòng)態(tài)阻抗端口測(cè)試通道:192路(最大可擴(kuò)充至2048路)


          北京金三航科技發(fā)展有限公司(英國(guó)ABI技術(shù)服務(wù)中心)提供:

          集成電路測(cè)試儀,集成電路篩選測(cè)試儀,元器件篩選測(cè)試儀,元器件檢測(cè)儀,三維立體動(dòng)態(tài)阻抗測(cè)試儀的使用技術(shù)培訓(xùn)服務(wù),測(cè)試程序開發(fā)編譯服務(wù),咨詢電話: 010-82573333.

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          英國(guó)ABI:電路板故障檢測(cè)儀,通用電路板故障診斷系統(tǒng),電路板維修測(cè)試儀;英國(guó)ABI-BM8600電路板故障檢測(cè)儀;英國(guó)ABI-BM8500電路板故障檢測(cè)儀;英國(guó)ABI-BM8400電路板故障檢測(cè)儀;英國(guó)ABI-BM8300電路板故障檢測(cè)儀;英國(guó)ABI-3400三維立體V-I-F動(dòng)態(tài)阻抗分析儀;英國(guó)ABI-DT5000C多功能電路板故障檢測(cè)儀;歡迎來電咨詢,咨詢電話:010-82573333.

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          英國(guó)ABI

          英國(guó)ABI中國(guó)技術(shù)服務(wù)中心-提供全面完整電路板測(cè)試方案-電路板故障測(cè)試方案

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